產品系統NEWS CENTER
首頁-產品系統-FTIR系列-IRE200
產品中心
FTIR系列
相關文章
光學薄膜測厚儀,IRE-200是一款超高精度的外延層厚度測量設備，利用紅外光譜經傅里葉變換進行快速分析，主要應用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各類外延片的外延層厚度測量。
更新日期：2025-02-08
型號：
廠商性質：生產廠家
027-87001728
關注我們微信賬號
掃一掃手機瀏覽
Copyright©2025 武漢頤光科技有限公司 版權所有 備案號：鄂ICP備17018907號-2 sitemap.xml 技術支持：化工儀器網 管理登陸
TEL：027-87001728
